應(yīng)力雙折射儀是一種用于測(cè)量光線經(jīng)過(guò)單軸晶體時(shí)的雙折射現(xiàn)象的儀器。其工作原理基于它們的物質(zhì)學(xué)性質(zhì)，即單軸晶體沿一個(gè)方向具有高度對(duì)稱性，沿其他兩個(gè)方向則沒(méi)有對(duì)稱性。這使得單軸晶體對(duì)于進(jìn)入的光線在兩個(gè)反向傳播方向上表現(xiàn)出不同的折射率。例如，若將一束與晶體軸夾角相等的地面光投入樣品，其中一束光會(huì)同時(shí)沿著晶體軸和眾多不同的方位產(chǎn)生折射；而另一束僅縱向通過(guò)晶體。
由兩部分組成：樣品和偏振器(Polarizer)。一個(gè)固定的偏振器放在樣品前面，以控制作用在晶體上的光源偏振狀況。然后光通過(guò)樣品，被分離成兩束，其中一束是O光，按照規(guī)律沿著擬合自然方向的折射面的晶面(⊥光)、另一支是E光，沿著垂直折射面的晶面(∥光)。分離后兩束光會(huì)被小孔再次凝聚到一起，并由另一個(gè)偏振器檢測(cè)其強(qiáng)度。偏振器可以wheel控制以調(diào)整其方向，以使得樣品對(duì)于不同極軸之間的折射率差異變得顯而易見(jiàn)。將其放置在微調(diào)范圍內(nèi)(通常為+/-20°)，從而測(cè)量雙折射(doublrrefraction)產(chǎn)生的相位延遲。
應(yīng)力雙折射儀廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、礦物學(xué)、晶體學(xué)和地質(zhì)學(xué)中，以準(zhǔn)確測(cè)量物質(zhì)中的應(yīng)力狀態(tài)并推斷物質(zhì)結(jié)構(gòu)、性質(zhì)等信息。此外，在天文學(xué)和高能物理學(xué)領(lǐng)域，它還可以被用來(lái)識(shí)別施加在高度對(duì)稱晶體上的非常弱的應(yīng)力，以及探究高能粒子與物質(zhì)作用時(shí)的相關(guān)效應(yīng)。
應(yīng)力雙折射儀優(yōu)點(diǎn)：
1.可以對(duì)單晶樣品進(jìn)行大量測(cè)量并快速獲得彈性狀況信息；
2.測(cè)定結(jié)果具有重復(fù)性高、靈敏度高和抗干擾性好等特點(diǎn)；
3.能夠應(yīng)用于多種場(chǎng)合下對(duì)各種PMMA進(jìn)行非接觸、無(wú)損傷測(cè)試。
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